Comme il est mentionné dans le cahier des charges de l’ICSM, les techniques de diffusion et de spectroscopie lumière, rayons X et neutrons sont nécessaires pour étudier de nouveaux matériaux pour le nucléaire, la séparation ionique, la catalyse etc. Elles doivent permettre d’analyser la structure de la matière plus ou moins organisée sur des échelles subnanométriques à submicroniques.
Diffraction X (8 keV), diffusion X aux petits angles (x-durs 17 keV), réflectivité, diffraction à angles rasants, optique non linéaire
ANR JCJC 2013-16, "FANTASIC" J. Cambedouzou
