Observations « long-terme » en microscopie électronique à balayage environnemental à haute température

Dans le cadre du projet ANR Aluplat, qui associe l’ICSM à trois autres laboratoires nationaux, un programme de pilotage automatisé d’un microscope électronique à balayage environnemental a été développé. Il permet d’enregistrer automatiquement des images à différents grandissements, sur différentes zones d’intérêt, tout en ajustant la mise au point (focus et astigmatisme) et en s’assurant du centrage des régions d’intérêt, sur des durées de plusieurs jours. Il a été utilisé pour caractériser l’oxydation de superalliages monocristallins à base de nickel de type γ/γ’ pendant 120 heures à 920 °C. La formation localisée (spatialement et temporellement) de whiskers de NiO a été mise en évidence et leur mécanisme de formation expliqué.

Dans une tout autre thématique, la cristallisation de surface d’un verre a été observée pendant 160 heures ce qui a permis de mettre en évidence des processus complexes de formation de phases multiples. Cet outil peut potentiellement être utilisé pour réaliser d’autres expériences sur de longues durées (humidité contrôlée, essais mécaniques, etc).

^{Crédit : ICSM/R. Podor}

Plus d’informations dans les articles suivants :

• J. Lautru, R. Podor. Development and validation of an interface for automated image acquisition during high-temperature environmental scanning electron microscopy experiments. Micron 202 (2026) 103980. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103980
• R. Podor, J. Lautru, T. Duprat, S. Mathieu, M. Vilasi, J. Cormier, L. Hunault, F. Pedraza. NiO whiskers growth driven by the presence of Pt nanoparticles during Ni-base superalloy oxidation. Materials Characterization 230 (2025) 115754. DOI: 10.1016/j.matchar.2025.115754